島津 EDX-7000 珠寶檢測應用
島津 EDX?7000 珠寶行業完整應用方案

一、珠寶領域核心檢測對象
1. 貴金屬首飾成色定量(最主要應用)
黃金系列:足金、22K、18K、14K、9K 金;檢測 Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd 配比,判定 K 金成色
鉑金 / 鈀金:Pt999、Pt950、Pt900、Pd990、Pd950;區分鉑、鈀、銠、銥雜質
銀飾:足銀、925 銀、835 銀;識別鍍銀、白銅仿銀
原料:金條、銀料、貴金屬回收料、首飾加工邊角料
典型測試時長:30~180 s / 件;支持直接測量成品戒指、項鏈、吊墜(寶石無需取下)
2. 鍍層首飾專項檢測(島津優勢)
3. 仿品與造假快速篩查
區分:實心貴金屬 vs 鍍金、包金、金包銅、金包鎢(表層檢測篩查,?無法穿透厚夾層,僅作初篩)
辨別:白銅 / 不銹鋼仿 925 銀、鎢合金仿鉑金
重要提示:EDX 屬于表面淺層分析,無法直接判定內部夾層,可疑樣品需結合密度法、火試金等進一步驗證。
4. 首飾有害元素管控(合規檢測)
5. 輔助寶石相關應用(定性篩查)
鉛玻璃仿鉆(檢出高鉛)、充填處理寶石元素篩查
天然 / 合成寶石微量元素對比
? 局限:不能獨立完成寶石定名;寶石鑒定仍需顯微鏡、紅外、UV?Vis 聯用。
二、適配珠寶行業的硬件關鍵特性
SDD 電制冷探測器,能量分辨率優異,輕重貴金屬元素分離度好
多尺寸準直器(1/3/5/10 mm 自動切換)
1 mm 微區:適合戒爪、細小鑲口、局部焊點小區域精準測量,避開周邊鑲嵌石干擾
內置 CMOS 觀測相機:精準定位首飾待測點位
Rh 靶 X 射線光管,5 檔自動濾光片切換,優化貴金屬激發效率
元素范圍:Na~U;含量范圍 ppm~100%
樣品腔尺寸:容納絕大多數常規首飾,異形吊墜、手鐲均可直接放入
三、珠寶行業典型工作場景
場景 1|首飾加工廠來料 / 成品質控
K 金合金熔煉配比在線抽檢
成品出廠成色核驗、鍍銠層厚度監控
不良品變色腐蝕失效分析(鍍層成分、基材雜質溯源)
場景 2|珠寶質檢實驗室初篩
大批量樣品快速預檢;初篩陽性樣品再送火試金仲裁(GB/T 18043)。
標準關系:ED?XRF 為無損篩查方法;貴金屬仲裁方法為火試金法。
場景 3|典當行、貴金屬回收
場景 4|品牌品控與市場打假
四、珠寶檢測固有局限性(實操重點)
探測深度淺(微米級),僅分析表面
不能識別厚夾層造假(金包鎢、金包銀),僅能篩查表層;遇到高價值可疑樣品必須輔以密度、鉆孔或火試金。
表面鍍層干擾
無鍍層修正模式時,鍍銠 18K 金測量結果會明顯失真,必須啟用島津多層薄膜分析程序。
拋光 / 污垢影響
表面油污、氧化皮、污漬會帶來誤差,測量前建議清潔待測點位。
不能區分同位素,無法直接判斷是否摻銥、釕等重稀土(微量摻假很難單層 XRF 檢出)
五、推薦珠寶檢測測量方法設置
模式:FP 基礎參數法 + 多層鍍層修正模型(Au?Rh 雙層模型)
優先選用 1 mm 準直器 測量戒托、細小鑲位
測試時間:貴金屬常規 120~180 s,提升重復性
日常校準:配套島津貴金屬標準樣品定期漂移校正
六、同系列橫向對比參考
EDX?7000:工廠、典當、中小型質檢性價比優選;Na 起測,滿足貴金屬主流需求
EDX?8100:可選真空、測碳,更適合礦物、寶石深度微量元素研究,預算更高

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