菲希爾X射線測厚儀XDLM237信息
菲希爾X射線測厚儀測量能力(常見鍍層)
可測單層、多層復合鍍層(Au/Ni、Pd/Ni/Au、Sn/Ni、Cu/Ni/Cr、鋅鎳、化學鎳金 ENIG 等)
鋅、裝飾鉻、多層電鍍體系
遵循標準:ISO 3497、ASTM B568
軟件:WinFTM
菲希爾 FP 基本參數法:大量測量無需標準片,支持未知鍍層體系建立程序
可編程多點陣列掃描、路徑自動測量、批量無人值守檢測
自動輸出 SPC 統計、報表、公差判定
支持數據導出、聯網,可對接實驗室 LIMS
主流應用行業
電子連接器 / 接插件
觸點 Au/Ni、PdAu、銀鍍層微小區域自動多點測試
PCB 印制電路板
化學鎳金 ENIG、沉錫、沉銀、焊盤局部鍍金
精密電鍍五金
裝飾鉻 Cu/Ni/Cr、鍍鋅、鋅鎳合金
半導體、引線框架、微型元器件鍍層檢測
來料檢驗、產線質量監控、第三方實驗室
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