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Enlitech
生產廠家
APD-QE
3805
江蘇南京市
2024/11/7 12:54:40
產品簡介
| 測量模式 | 直流 | 產地類別 | 進口 |
| 價格區間 | 200萬-400萬 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
光感測器量子效率測量儀介紹
隨著5G與移動設備的興起與普及,越來越多新型光傳感器被應用于我們的日常生活中,為了能更好的應用在行動裝置上,這些先進光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些應用卻對先進光傳感器的光感測性能要求卻越來越高,在感光面積微縮的過程中,也帶來量子效率精準測量的挑戰;例如,傳統聚光型小光斑在不同波長下,色散差造成焦點位移可到mm等級。難以將所有的光子都聚焦到微米等級的感光面積中。因此,難以準確測得全光譜量子效率曲線。
APD-QE 光感測器量子效率測量儀采用光束空間均勻化技術,利用ASTM標準的”Irradiance Mode”測試方式,與各種先進探針臺形成完整的微米級光傳感器全光譜量子效率測試解決方案。APD-QE已被應用于多種先進光傳感器的測試中,例如在iPhone光達與其多種光傳感器、Apple Watch血氧光傳感器、TFT影像傳感器、有源主動像素傳感器(APS)、高靈敏度間接轉換X射線傳感器等。
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