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大塚電子主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相關材料的光學特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源?照明相關方面，對國家級研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
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OTSUKA 大塚電子 內置膠片厚度顯示器產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 20萬-50萬 |
| 應用領域 | 醫療衛生,食品/農產品,電子/電池,電氣,綜合 |
OTSUKA 大塚電子 內置膠片厚度顯示器詳細信息
OTSUKA 大塚電子 內置膠片厚度顯示器 FE-3
OTSUKA 大塚電子 內置膠片厚度顯示器 FE-3
定位：嵌入式 / 在線型分光干涉膜厚監測儀，主打設備內置、實時在線、高速高精度 **；用于產線集成與多點監控，區別于臺式 FE?300/3000 與橢偏儀 FE?5000。
特色
基于高精度光譜干涉測量的薄膜厚度測量系統
快速傅里葉變換（FFT）方法作為分析算法
使用光纖的各種測量光學
適用于各種制造設備的集成
實時厚度測量
遠程控制與多點測量
白色LED光源——壽命長且穩定性高
測量項目
多層薄膜的薄膜厚度分析
應用
光學膜（硬涂層、增強現實膜、ITO膜等）等等）
FPD（抗性，SOI，SiO2…等等）
核心產品優勢
小型機柜式機身，設備內置專用
整機僅 10kg、300mm 立方緊湊箱體，可直接裝入涂布、鍍膜、晶圓設備控制柜，不占用獨立檢測工位，適配無塵車間狹小安裝空間。
百米長距離光纖適配各類工況
光纖最長定制 100m，探頭可伸入高溫烘箱、真空腔體、卷對卷走膜架，主機放置常溫控制柜隔離惡劣環境。
實時產線閉環控制，降低不良率
數字 I/O + 以太網雙通訊，厚度超差自動輸出報警信號，聯動涂布模頭、走膜速度自動修正，24 小時不間斷在線質控。
雙光路全覆蓋薄 / 厚膜場景
FE-3/40C 可見光：ITO、光刻膠、SiO?、PI 超薄光學薄層；
FE-3/200I 近紅外：厚 UV 膠、臨時鍵合樹脂、PET 厚保護膜、光伏膠膜。
長壽命穩定光源，量產低維護
FE-3/40C 采用白光 LED 光源，壽命遠超氘燈；近紅外款鹵素光源恒溫驅動，長期測量漂移極小。
多層膜一體化解析
內置多層擬合算法，一次測量獲取多層涂層厚度與光學常數，適配復合光學膜、晶圓多層介質結構。
非接觸無損檢測
無物理接觸、無壓力，不劃傷柔性薄膜、晶圓、精密光學基材，可動態連續測量走膜卷材。
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內容聲明：
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