日本OTSUKA大塚西南代理膜厚監測儀SM-100

日本OTSUKA大塚西南代理膜厚監測儀SM-100

日本OTSUKA大塚電子SM-100系列手持式膜厚監測儀，是專為解決傳統實驗室膜厚儀無法適配現場檢測痛點打造的級產品，憑借“便攜+高精度+無損快測”三大核心優勢，打破了精密膜厚檢測的場地限制，成為工業現場巡檢、戶外抽檢、大尺寸工件檢測場景的設備。

整機僅重1.1kg，機身尺寸為138×198×61mm，單手即可輕松握持，無需外接復雜支架與連接線，內置長效鋰電池可支持連續4小時以上的現場作業，車間高空巡檢、倉庫來料隨機抽檢、戶外工程現場檢測都能靈活適配，告別傳統臺式設備搬運繁瑣、部署耗時的問題。設備搭載優良的反射光譜干涉檢測技術，無需提前制作不同基材的校準曲線，開機即可直接測量，新人經過簡單指引就能快速上手，避免人為操作帶來的檢測誤差。

SM-100系列分為兩個細分型號覆蓋不同需求：標準款SM-100S支持1~50μm單層膜測量，專業款SM-100P可覆蓋0.1~100μm單層膜，同時支持最多3層多層膜同步解析，測量重復性可達0.01μm（SiO? 1μm樣品），檢測精度媲美實驗室專業級設備，單次測量僅需1秒，單日可完成數百個樣品檢測，巡檢效率是傳統臺式橢偏儀的10倍。設備標配直徑≤Φ1mm的標準探頭，還可選配Φ6mm筆型探頭，可深入鏡片邊緣、手機中框臺階、包裝封口等狹窄區域完成檢測，非接觸式的測量設計不會劃傷、污染樣品，尤其適配高價值精密元器件的檢測需求。

機身防護等級達IP30/IK06，防塵抗沖擊可適配復雜工業環境，支持U盤直接導出CSV格式檢測數據，配套分析軟件可自動完成SPC統計與CPK計算，輕松滿足IQC/OQC環節的電子記錄與數據追溯要求。廣泛應用于半導體晶圓鍍膜、光學鏡片AR膜、食品包裝阻隔涂層、新能源光伏薄膜、醫療器械功能涂層等多個核心行業。