Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機，可用于第三方檢測中的多類樣品形貌觀察和元素分析。

Phenom ProX G7 電子光學放大倍數可達 350,000 X，分辨率優于 6 nm，采用 CeB6 燈絲，并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區元素分析和材料研發檢測。

該產品適合高校實驗室、企業研發中心、第三方檢測機構及工業質檢場景。具體配置和價格根據樣品類型、探測器配置、能譜分析需求及服務方案確定，可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議，并預約試樣。

產品特點：

1. 臺式掃描電鏡與能譜分析能力結合。

2. 電子光學放大倍數可達 350,000 X。

3. 分辨率優于 6 nm，適合常規材料微觀形貌觀察。

4. CeB6 燈絲壽命優于 3000 小時。

5. 支持高/低真空模式。

6. 標配背散射探測器和能譜探測器，可選配二次電子探測器。

7. 適合顆粒、異物、缺陷區域和材料微區成分分析。

8. 支持選型咨詢，可預約試樣。