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大塚電子主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相關材料的光學特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源?照明相關方面，對國家級研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
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原廠進口代理OTSUKA大塚電子相位差檢測設備產品參數
| 產地類別 | 進口 |
原廠進口代理OTSUKA大塚電子相位差檢測設備詳細信息
原廠進口代理OTSUKA大塚電子相位差檢測設備
原廠進口代理OTSUKA大塚電子相位差檢測設備
相位差檢測設備RETS-100nx
兼具廣泛用途與高精度、所有光學機能膜材皆可對應
薄膜、光學材料:
Retardation(波長分散)、遲相軸、Rth(＊1)、3維折射率(＊1) 等
偏光板:
吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種穿透率等
液晶Cell:
Cell Gap、Pre-tilt角(＊1)、Twist角、配向角等
＊1：需要傾斜旋轉量測臺。 (選購品)
薄膜、光學材料:
Retardation(波長分散)、遲相軸、Rth(＊1)、3維折射率(＊1) 等
偏光板:
吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種穿透率等
液晶Cell:
Cell Gap、Pre-tilt角(＊1)、Twist角、配向角等
＊1：需要傾斜旋轉量測臺。 (選購品)
相位差檢測設備RETS-100nx產品特色 |
獨自開發的分光器可提供高精度量測
■ 高精度
■支援各量測范圍 Retardation : 0 ～ 60000nm
超高相位差量測-可高速?高精度量測超復曲折膜-
■ 高相位差
多層量測-無須剝離、以非破壞式量測各種光學機能膜材的積層狀態
軸角度補償功能-樣品設置有誤差也可輕松完成再現性量測-
■ 樣品重制10次,對角度補償有無的結果比較
【 樣品：相位差膜R85 】
簡單易懂的軟體-量測時間及解析時間大幅縮短。操作性大幅UP-
規格樣式
| RETS-100nx | |
|---|---|
| Retardation 量測范圍 | 0 ~ 60,000nm |
| Retardation 可反覆操作 | 3σ≦0.08nm(水晶波長板約600nm) |
| Cell Gap 量測范圍 | 0 ~ 600μm(當Δn=0.1時) |
| Cell Gap 可反覆操作 | 3σ≦0.005μm(當Cell Gap約3μｍ、Δｎ＝0.1時) |
| 軸檢出 可反覆操作 | 3σ≦0.005μm(當Cell Gap約3μｍ、Δｎ＝0.1時) |
| 量測波長范圍 | 400 ~ 800nm(有其他選擇) |
| 探測器 | 多通道分光光譜儀 |
| 量測外徑 | φ2 or φ5㎜(標準規格) |
| 光源 | 100W 鹵素燈 |
| 數據處理部 | 個人電腦、伺服器 |
| 量測臺尺寸 標準 | 100mm × 100mm(固定量測臺) |
| 設備尺寸 | W480 × D520 × H765mm |
| 選購品 | ?超高Retardation量測 ?多層量測 ?軸角度補償功能 ?XY量測臺(自動?手動) ?傾斜旋轉量測臺(自動?手動) |
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內容聲明：
您訪問的原廠進口代理OTSUKA大塚電子相位差檢測設備產品信息，由玉崎科學儀器（深圳）有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于原廠進口代理OTSUKA大塚電子相位差檢測設備型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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