池田屋！TESTRAM 低頻/高頻諧振頻率測試儀 T8200PRO

池田屋！TESTRAM 低頻/高頻諧振頻率測試儀 T8200PRO

T8200PRO 是日本 TESTRAM 株式會社推出的一款兼容 LF（低頻）和 HF（高頻）頻段的諧振頻率測試儀。該產品通過磁場耦合進行非接觸式諧振頻率測量，可測量諧振頻率、衰減和 Q 值，并可選配 UID（標識符）讀取功能，適用于 IC 卡、NFC 標簽、非接觸式電源線圈及超聲波傳感器等產品的諧振特性評估與質量檢測。

測量原理與測試項目

T8200PRO 采用 磁場耦合非接觸式測量方法，通過檢測發射或反射電壓的幅度來評估被測物的諧振特性。主要測試項目包括：

• 諧振頻率：被測物的諧振點頻率

• 衰減：諧振曲線的衰減特性

• Q 值：品質因數（負載 Q / 空載 Q）

• 衰減極限測試：判斷衰減是否在設定范圍內

• UID 讀取（選配） ：支持 ISO14443A（MIFARE Classic/Ultralight）、ISO14443B（PUPI）、FeliCa（IDm）、ISO15693（Tag-it HF-I Plus/Pro、I·CODE SLIX2）等協議的 UID/PUPI/IDm 讀取

頻率設置范圍與輸出功率

頻率設置范圍為 10kHz 至 100MHz（標準配置），100MHz 至 1200MHz 的 UHF 輸出端子在標準配置下無法使用，如有需要可聯系廠家定制。施加功率（50Ω 負載）為：10kHz 至 100MHz 范圍 -30 至 +15dBm，100MHz 至 1200MHz 范圍最大 0dBm（典型值）。

測量點數與檢測時間

測量點數量可在 100 至 2048 點 之間設置。檢測時間約為：不進行 ID 讀取檢查時 0.5 秒（典型值）（測量點數 = 1000 時），進行 ID 讀取檢查時約 1 秒（典型值）。檢測時間受電腦性能、檢測設置及被測物特性影響。

CCS晰寫速 SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時計、NPM日脈

NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山

優勢品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC

S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野

IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮

HEIDON新東、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等