池田屋！TESTRAM HF頻段RFID可變功率衰減器 TAT150

池田屋！TESTRAM HF頻段RFID可變功率衰減器 TAT150

TAT150 是日本 TESTRAM 株式會社推出的一款 HF 頻段 RFID 可變功率衰減器。該產品通過降低電場強度，可在任意所需的輸出電平下進行通信性能測試，適用于 RFID 讀卡器/寫卡器與 IC 卡、NFC 標簽等設備之間的通信性能評估與調試。

結構與特點

TAT150 內置 音量控制功能，可連續調節衰減量，從而改變天線與 IC 卡之間的電場強度。通過控制輸出電平，可在不同信號強度下評估 RFID 系統的通信性能，用于判斷 RFID 標簽和讀卡器的靈敏度裕量，以及驗證系統在實際使用環境中的通信穩定性。

頻率范圍與衰減特性

頻率范圍為 10 至 100MHz，覆蓋 HF 頻段 RFID（13.56MHz 等）的主要工作頻率。衰減量可在 2 至 25dB 范圍內連續調節，衰減量可通過附帶的控制電壓與衰減量轉換表進行換算。

輸入電平與連接器

最大輸入功率為 300mW（+25dBm）。輸入/輸出連接器為 SMA 插孔（50Ω），便于與測試設備連接。控制端子為 Φ3.5 立體聲迷你插孔（僅用于連接 TESTRAM 產品）。

電源

電源為 DC +15V ±10%，標配交流適配器，無需額外配置電源。

配件與物理規格

標配附件包括同軸電纜（1 米）、控制終端電纜（0.5 米）及控制電壓與衰減量轉換表。主機外形尺寸為 45 mm（高）× 110 mm（寬）× 110 mm（深）（不含突出部分）。

應用場景

TAT150 主要與 T8200PRO 諧振頻率測試儀 配合使用。通過 TAT150 調節輸出電平，可在不改變諧振頻率測量結果的前提下，確認 IC 卡、NFC 標簽等在弱信號條件下的響應性能。典型應用包括 RFID 標簽和讀卡器靈敏度測試、NFC 設備通信裕量評估、RFID 系統故障排查以及 RFID 產品的研發驗證。

CCS晰寫速 SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時計、NPM日脈

NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山

優勢品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西

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