桌面型設(shè)計(jì)低噪音 ATC840S接觸式?jīng)_擊機(jī)

ThermoTST ATC840S通過(guò)接觸頭與 DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫 或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的 性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路，排 除外圍電路引起的不確定性。

高低溫冷熱臺(tái) ATC840S接觸式冷熱沖擊機(jī)

溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn)，可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)型的芯片施加溫度，無(wú)論是使 用 Socket  還是已經(jīng)焊接到PCB 上的芯片。

桌面型設(shè)計(jì)低噪音 ATC840S接觸式?jīng)_擊機(jī)

特點(diǎn)

· 溫度范圍：-40℃~ +150℃

· 溫度穩(wěn)定性±1℃

· 觸摸屏操作，人機(jī)交互界 面

· 支持DUT溫度控制

· 桌面式設(shè)計(jì)，低噪音、低 震動(dòng)、低環(huán)境散熱

· 溫度波動(dòng)小

· 低溫環(huán)境測(cè)試無(wú)冷凝

高低溫冷熱臺(tái) ATC840S接觸式冷熱沖擊機(jī)

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

· 滿足美用標(biāo)準(zhǔn)MIL 體系 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

· 滿足國(guó)內(nèi)元件GJB體系 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

· 滿足JEDEC測(cè)試要求

應(yīng)用

適用于IC特性、測(cè)試和失效分析：

ATE,SLT和工作臺(tái)

高低溫測(cè)試箱/低溫冷卻機(jī)代換 OEM集成