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中冷低溫ThermoChuck200卡盤
中冷低溫ThermoChuck200卡盤·溫度控制真空卡盤可容納300毫米的晶圓.· 高精度,控溫性好,穩定...
型號:
所在地:成都市
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¥8888更新時間:2026/5/15 10:52:33
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高低溫Thermochuck接觸式探針臺卡盤接觸式卡盤快速溫變控溫卡盤高低溫CHUCK
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ThermoChuck200 高低溫探針臺卡盤
ThermoChuck200 高低溫探針臺卡盤·溫度控制真空卡盤可容納300毫米的晶圓.· 高精度,控溫性好,穩定性均勻.·可提供...
型號:
所在地:成都市
參考價:
¥8888更新時間:2026/5/15 10:51:31
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Thermochuck熱控卡盤卡盤探針臺卡盤快速溫變控溫卡盤高低溫CHUCK
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ThermoChuck200 高低溫度卡盤
ThermoChuck200 高低溫度卡盤·溫度控制真空卡盤可容納300毫米的晶圓.· 高精度,控溫性好,穩定性均勻.·可提供標準、高隔離性和防護配置.
型號:
所在地:成都市
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¥8888更新時間:2026/5/15 10:50:03
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Thermochuck卡盤探針臺卡盤高低溫Plate高低溫CHUCK
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Thermochuck熱控卡盤三溫芯片探臺針
Thermochuck熱控卡盤三溫芯片探臺針,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2026/4/27 13:30:08
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck探針臺卡盤三溫Chuck
ThermoChuck探針臺卡盤三溫Chuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:28:37
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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Thermochuck三溫芯片探針臺
Thermochuck三溫芯片探針臺,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:26:28
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫芯片探針臺Thermochuck熱控卡盤
三溫芯片探針臺Thermochuck熱控卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:25:42
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫CHUCK熱控卡盤
ThermoChuck高低溫CHUCK熱控卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:16:59
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫芯片探針臺Thermochuck
三溫芯片探針臺Thermochuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:16:13
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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Chuck探針臺卡盤三溫芯片測試卡盤
Chuck探針臺卡盤三溫芯片測試卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:15:27
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck探針臺卡盤高低溫Thermochuck
ThermoChuck探針臺卡盤高低溫Thermochuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:14:29
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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卡盤Thermochuck溫度迫使系統
卡盤Thermochuck溫度迫使系統,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:11:58
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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快速溫變控溫卡盤Thermochuck
快速溫變控溫卡盤Thermochuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:10:09
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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Thermochuck熱控卡盤
Thermochuck熱控卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和多功...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:08:53
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫Chuck探針臺卡盤高低溫卡盤
三溫Chuck探針臺卡盤高低溫卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和...
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¥11111更新時間:2026/4/27 10:07:36
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫載物臺
ThermoChuck高低溫載物臺,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和...
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¥11111更新時間:2026/4/27 9:57:34
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫CHUCK
ThermoChuck高低溫CHUCK,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/4/27 9:56:59
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫Plate
ThermoChuck高低溫Plate,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/4/27 9:56:03
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck卡盤探針臺卡盤
ThermoChuck卡盤探針臺卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/4/27 9:54:50
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫Chuck探針臺卡盤
三溫Chuck探針臺卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和多功能性,...
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¥11111更新時間:2026/4/27 9:54:03
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫