中冷低溫 HAST高加速壽命老化試驗箱

bHAST測試 HAST高加速壽命試驗箱是主要用于評估在濕度環境下產品或者材料的可靠性，是通 過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這 些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者 產品內部。

相對于傳統的高溫高濕測試，HAST增加了容器內的壓力，使得可以實現 超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移，腐蝕，絕緣 劣化，材料老化等),大大縮短可靠性評估的測試周期，節約時間成本。HAST高加 速老化測試已成為某些行業的標準，特別是在PCB、半導體、太陽能、顯示面板等 產品中，作為標準高溫高濕測試的快速有效替代方案。

中冷低溫 HAST高加速壽命老化試驗箱

應用

用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環境下的可靠性。該試驗檢查芯 片長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本設備適用于量產芯片驗證測試階 段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝(塑料封裝),帶偏置 ( bHAST)  和不帶 偏置 ( uHAST)  的測試。

測試標準

·IEC60068-2-66

·IEC60749-4

·JESD22-A102E

·JESD22-A110E

·JESD22-A118B

·JPCA-ET08

·EIAJ     ED4701/100102

·AEC-Q100-Rev-H

·JIS C0096-2001