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ZONGLEN熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試，Thermo TST 是一臺(tái)精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更guan泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強(qiáng)的溫度...
熱流儀 5G 通訊模塊高低溫沖擊測(cè)試，Thermo TST 是一臺(tái)精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更guan泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強(qiáng)的溫度轉(zhuǎn)換測(cè)...
inTEST 熱流儀接觸式溫度沖擊測(cè)試機(jī) 維修，適用于集成電路 IC特性分析、高低溫測(cè)試、失效分析，提供可選的interface 已滿足不同尺寸IC。
inTEST 熱流儀高低溫沖擊測(cè)試機(jī) 維修，經(jīng)濟(jì)型高低溫沖擊測(cè)試機(jī)，溫度沖擊范圍: -60 °C 至 +150 °C, 適用于對(duì)各類元件,零件, 混合件, 模塊...
inTEST ATS535高低溫沖擊熱流儀 維修與保養(yǎng)，inTESTTemptronic ATS-535 適用于辦公大樓內(nèi)無(wú)空壓系統(tǒng)的客戶，除了機(jī)動(dòng)性方便移動(dòng)外...
Thermal Control system氣體溫控器，ThermoTST GC120氣體制冷機(jī)采用 混合制冷劑自動(dòng)制冷層疊技術(shù)，以提 供 超低溫而不需要液氮的...
Thermal Control system氣體制冷機(jī)，ThermoTST GC120氣體制冷機(jī)采用 混合制冷劑自動(dòng)制冷層疊技術(shù)，以提 供 超低溫而不需要液氮的...
太陽(yáng)能模塊HAST高加速老化壽命試驗(yàn)解決方案，CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，CAF測(cè)試也叫離子遷移測(cè)試，CAF測(cè)試是一種用于評(píng)估材料中離子遷移性質(zhì)的...
Air chiller System氣體制冷機(jī)GC120，ThermoTST GC120氣體制冷機(jī)采用 混合制冷劑自動(dòng)制冷層疊技術(shù)，以提 供 超低溫而不需要液氮...
Refrigerated Cooling System投入式制冷器1，投入式制冷器是采用機(jī)械制冷方式，可以有效且快速的冷卻實(shí)驗(yàn)室、科學(xué)研究和工業(yè)過(guò)程中使用的液體...
Refrigerated Cooling System投入式制冷器，投入式制冷器是采用機(jī)械制冷方式，可以有效且快速的冷卻實(shí)驗(yàn)室、科學(xué)研究和工業(yè)過(guò)程中使用的液體，...
Air Cooling System氣體制冷機(jī)GC120，ThermoTST GC120氣體制冷機(jī)采用 混合制冷劑自動(dòng)制冷層疊技術(shù)，以提 供 超低溫而不需要液氮...
芯片老化測(cè)試Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低...
芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使...
芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
電子元器件高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件...
沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...
電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體，可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣...
器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體，可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行...
冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì)...
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