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OTSUKA大塚電子 測量裝置光波場三維顯微鏡
OTSUKA大塚電子測量裝置光波場三維顯微鏡是大塚自研波前傳感 + 數字重聚焦技術的旗艦透明體三維檢測設備,主打透明材質內部無損三維觀測,國內由大塚電子(蘇州)...
型號: MINUK
所在地:北京市
參考價:
¥1250000更新時間:2026/7/24 16:11:13
對比
MINUKOTSUKA大塚電子光波場三維顯微鏡測量裝置光譜相關儀器
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OTSUKA大塚光譜干涉晶圓厚度計
OTSUKA大塚光譜干涉晶圓厚度計OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種薄膜...
型號: SF-3
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:47
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚高速重放測量裝置
OTSUKA大塚高速重放測量裝置OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種薄膜、...
型號: RE-200
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:47
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚延遲測量裝置
OTSUKA大塚延遲測量裝置OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種薄膜、晶圓...
型號: RETS-100n...
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:47
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚光譜儀薄膜厚度計-海量光譜數據
OTSUKA大塚光譜儀薄膜厚度計-海量光譜數據OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度...
型號: OPTM-A3
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:47
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚光譜儀薄膜厚度計-零接觸測樣
OTSUKA大塚光譜儀薄膜厚度計-零接觸測樣OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,...
型號: OPTM-A2
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:47
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚光譜儀薄膜厚度計-簡易操作
OTSUKA大塚光譜儀薄膜厚度計-簡易操作OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如...
型號: OPTM-A1
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:47
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚電子加載端口兼容膠片厚度測量
OTSUKA大塚電子加載端口兼容膠片厚度測量OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,...
型號: GS-300
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚電子光譜干涉晶圓厚度計
OTSUKA大塚電子光譜干涉晶圓厚度計OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種...
型號: SF-3
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀-抗卷材
OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀-抗卷材OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,...
型號: SF-3/1300
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀-自動解析
OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀-自動解析OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度...
型號: SF-3/800
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀-廣覆蓋
OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀-廣覆蓋OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,...
型號: SF-3/300
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀
OTSUKA大塚超高速光譜干涉厚度儀OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種薄...
型號: SF-3/200
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚光譜橢圓儀
OTSUKA大塚光譜橢圓儀OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種薄膜、晶圓和...
型號: FE-5000
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚線掃描薄膜厚度計-無損檢測
OTSUKA大塚線掃描薄膜厚度計-無損檢測OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如...
型號: 離線類型
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚線掃描薄膜厚度計-超高速采樣
OTSUKA大塚線掃描薄膜厚度計-超高速采樣OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,...
型號: 離線
所在地:北京市
參考價:
¥145000更新時間:2026/6/5 16:57:18
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚電子毛細管電泳系統
OTSUKA大塚電子毛細管電泳系統OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種薄膜...
型號: Agilent 7...
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:06
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚電子高靈敏度差分折射儀
OTSUKA大塚電子高靈敏度差分折射儀OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如各種...
型號: DLS-6500S...
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:06
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚電子動態散射光度計-全覆蓋
OTSUKA大塚電子動態散射光度計-全覆蓋OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,如...
型號: DLS-6500S...
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:06
對比
厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀
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OTSUKA大塚電子動態散射光度計-同步檢測
OTSUKA大塚電子動態散射光度計-同步檢測OPTM是一種通過顯微光譜測量極小區域絕對反射率,實現高精度膠片厚度和光學常數分析的設備。它可以測量涂層薄膜的厚度,...
型號: DLS-6500H...
所在地:北京市
參考價:
¥150000更新時間:2026/6/5 16:57:06
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厚度計粒度測量儀日本大塚薄膜厚度計光譜橢圓儀