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高分辨三維X射線顯微鏡系統(tǒng),工業(yè)級(jí)三維顯微鏡精準(zhǔn)把控微米世界
非破壞性檢驗(yàn)技術(shù)中存在一種方法,能夠在不拆解樣品的前提下揭示其內(nèi)部三維結(jié)構(gòu),此方法基于X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描原理。這類設(shè)備在工業(yè)領(lǐng)域被用于獲取物體內(nèi)部精確的空間信息
X射線穿過(guò)物體時(shí),不同材質(zhì)對(duì)射線的吸收程度存在差異。探測(cè)器接收衰減后的射線信號(hào),將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。單一角度的投影圖像僅能體現(xiàn)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的二維疊加信息,不足以構(gòu)建三維模型。設(shè)備需要圍繞樣品旋轉(zhuǎn)多個(gè)角度,系統(tǒng)地采集大量投影數(shù)據(jù),這是三維重建的基礎(chǔ)。
獲取的二維投影數(shù)據(jù)本身并非直觀的三維圖像。通過(guò)特定的數(shù)學(xué)算法對(duì)數(shù)據(jù)集進(jìn)行處理,可以計(jì)算出被檢測(cè)物體內(nèi)部各點(diǎn)的物質(zhì)密度分布。這些算法核心是解決從投影重建切片圖像的數(shù)學(xué)反問(wèn)題。經(jīng)過(guò)計(jì)算,最終得到的是表征物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體素?cái)?shù)據(jù)集合。
多量程x射線納米ct系統(tǒng),X射線源電壓最高可達(dá)160kV。最多可提供四個(gè)探測(cè)器,CMOS探測(cè)器用于高能量快速掃描,3個(gè)CCD探測(cè)器用于各種情形下的高分辨率掃描。高能量與高分辨的結(jié)合,使其能夠靈活地適用于各種類型、各種大小的樣品,并實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率的樣品掃描,為不同領(lǐng)域材料的3D成像和精確建模提供地解決方案,廣泛應(yīng)用于油氣開(kāi)采,復(fù)合材料,燃料電池,電子產(chǎn)品等領(lǐng)域。
SkyScan 2214高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)可對(duì)直徑為30cm,長(zhǎng)度40cm樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行3D無(wú)損檢測(cè)與重建,對(duì)樣品的細(xì)節(jié)檢測(cè)能力(標(biāo)稱分辨率)最高可達(dá)60納米。
特點(diǎn)介紹:
●保護(hù)樣品:無(wú)需制備樣品,無(wú)損三維重現(xiàn)
● 對(duì)樣品的細(xì)節(jié)檢測(cè)能力(分辨率)最高可達(dá):60nm
● 最大樣品直徑:30cm; 最大樣品長(zhǎng)度:40cm
●自動(dòng)可變掃描幾何系統(tǒng):根據(jù)用戶設(shè)定的放大倍率,儀器可自動(dòng)優(yōu)化掃描幾何,找到最快的測(cè)試方案,用最短時(shí)間,得到高質(zhì)量數(shù)據(jù)
●全新的160kV超高強(qiáng)度開(kāi)放式微焦斑X射線光源,提供更高的光通量和更好的光束穩(wěn)定性,20-160kV連續(xù)可調(diào),免維護(hù)
● 配備多探測(cè)器:600萬(wàn)像素CMOS探測(cè)器適用于高能量X射線,800/1100萬(wàn)像素CCD探測(cè)器更適合高分辨測(cè)試模式
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