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日本大塚電子Otsuka多樣品納米粒子徑測試，nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系...

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大塚電子Otsuk多樣品粒子徑測量系統，產品信息特點nanoSAQLA的特點1個單元可輕松連續測量5個樣品實現了在沒有自動進樣器的情況下難以實現的多個樣品的連續...

大塚電子Otsuk原裝電位·粒徑·分子量測量，產品信息 特點 使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉移溫度...

日本大塚電子Otsuka電位·粒徑·分子量測試，可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~1...