王洋
當前位置:日崎國際貿易(成都)有限公司>>松下 Panasonic>>三維表面輪廓儀>> UA3P-3100日崎 松下 Panasonic 納米級三維表面輪廓儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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日崎 松下 Panasonic 納米級三維表面輪廓儀
日崎 松下 Panasonic 納米級三維表面輪廓儀
高精度的光學檢測是精密制造的基礎。在生產智能手機鏡頭或數碼相機(DSC)的微型鏡片時,其表面微小的形變或光軸偏心都會直接影響成像質量。傳統的接觸式輪廓儀由于測力較大,容易在樹脂鏡片或軟質模具上留下劃痕,且機械導軌的固有誤差難以滿足納米級的量測需求。
【獨立的坐標測量系統】本設備在坐標系構建上采用了創新的設計。其測量坐標系由基臺和獨立的 3 塊參照平面(鏡片)構成,通過頻率穩定化的 He-Ne 激光作為光源,以激光干涉法對 XYZ 各軸進行獨立測長。這種非接觸的光學測長方式,分辨率高達 0.3 nm,有效減少了傳統機械基臺直角度和直線度帶來的機械誤差,使得在 100 mm 范圍內的測量誤差控制在 0.05 μm 以內。
【低測力探測器技術】為了保護脆弱的被測物表面,設備配備了專用的頂面測量探測器(AFP)。該探測器使用微型空氣滑塊固定觸針,并通過對焦用激光實時檢測觸針的動作,讓系統根據測量物的形狀動態跟隨,從而將測量力恒定維持在 0.15~0.30 mN(部分設定下可達 0.10~0.20 mN)。這種幾乎無阻力的輕觸掃描,搭配前端角 30 度、半徑 2 μm 的金剛石觸針,能夠靈敏地勾勒出鏡片的真實微觀輪廓。
【主要技術規格參數表】
測量功能/模塊 | 規格參數與技術指標 |
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基礎測長原理 | 采用 He-Ne 激光光源的激光干涉法 |
坐標軸分辨率 | 0.3 nm (XYZ 各軸向獨立測長) |
坐標軸測量誤差在 | ≤ 0.05 μm (100 mm 內) / ≤ 0.3 μm (500 mm 內) |
頂面測量探測器 (AFP) | 測量力恒定控制:0.15 ~ 0.30 mN |
側面測量探測器 (S-AFP) | 測量力控制:0.3 mN / 測定精度:±0.15 μm (90°傾斜時) |
側面測定角度范圍 | 水平:45°~90° / 垂直:80°~90° (相對于水平面) |
觸針材質與規格 | 適用前端角 30 度、r = 2 μm 的金剛石觸針 |
軟件評估功能 | 支持 NC 程序自動生成、頂側面數據合成與偏心傾斜評估 |
【一站式工業儀器儀表供應矩陣】作為專業的儀器儀表綜合供應商,我們致力于為您提供高品質的測量儀器以及全面的檢測方案。代理日本品牌:CCS晰寫速、SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克、SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI林時計、NPM日脈、NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學、NIPPON GEAR日本齒輪、NIDEC尼得科、MIYACHI天田等。優勢日本品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西、SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC、S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學、AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計器、IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機、SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等。涵蓋的優勢產品線:光學與視覺領域(紫外線照度計、LED視覺光源、色差儀、變色燈箱)、物性分析與力學測試(電子天平、粘度計、應變測試儀、拉拔機、脫泡攪拌機)、環境與氣體監測(水分計、采樣泵、氣體檢測儀、氧氣濃度計)、基礎電氣(焊接機、應力表面檢查儀、壓力傳感器、接近開關、異音檢測儀、拉針儀、水平測試儀)等,為您提供專業的選型建議與周到的供貨支持。期待與您的合作!
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