王洋
當前位置:日崎國際貿易(成都)有限公司>>松下 Panasonic>>三維表面輪廓儀>> UA3P-5000H日崎 松下 Panasonic 大型高精度三維輪廓儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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日崎 松下 Panasonic 大型高精度三維輪廓儀
日崎 松下 Panasonic 大型高精度三維輪廓儀
在車載平視顯示器(HUD)及平板顯示器(FPD)的相關光學模具制造中,工件表面通常呈現出大面積的復雜自由曲面。如果使用傳統的懸臂式測量儀,隨著測量行程的增加,懸臂結構的下垂與機械摩擦帶來的形變會被放大,從而導致長距離掃描下的數據失真,影響產品的整體折射性能評價。
【抗位移的激光干涉測量陣列】為了在大行程下依然保持可靠的定位準確度,該設備擯棄了純機械光柵尺,引入了由 3 塊獨立參照平面鏡構建的坐標測量系統。在穩定頻寬的 He-Ne 激光照射下,系統對空間內的 XYZ 三軸實施高頻率干涉測長。這種無物理接觸的定位反饋機制不僅將解析度細化至 0.3 nm,更有效抑制了基臺長距離移動時的真直度偏移,將 500 mm 范圍內的誤差限制在 0.3 μm 以內。
【自適應的低接觸測定】面對具有高表面光潔度的大型模具或鍍膜反射鏡,設備選用了測力極輕的 AFP(頂面測量探測器)。該探測器依靠微型空氣滑塊懸浮,通過輔助對焦激光實時監控金剛石觸針(r=2 μm)的垂直位移,并在系統算法的調度下實時跟隨自由曲面的起伏。這種動態平衡機制將接觸測力穩定在 0.15~0.30 mN,確保大面積連貫掃描時不對精密涂層產生劃傷。
【主要技術規格參數表】
測量功能/模塊 | 規格參數與技術指標 |
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基礎測長原理 | 采用 He-Ne 激光光源的激光干涉法 |
坐標軸分辨率 | 0.3 nm (XYZ 各軸向獨立測長) |
坐標軸測量誤差在 | ≤ 0.05 μm (100 mm 內) / ≤ 0.3 μm (500 mm 內) |
頂面測量探測器 (AFP) | 測力恒定控制系統:0.15 ~ 0.30 mN |
側面測量探測器 (S-AFP) | 測力 0.3 mN;90°傾斜時測定精度可達 ±0.15 μm |
側面測定角度范圍 | 水平:45°~90° / 垂直:80°~90° (相對于水平面) |
觸針材質與規格 | 適用前端角 30 度、r = 2 μm 的金剛石觸針 |
軟件評估功能 | 提供設計信息比對支持、三維誤差補正與光軸偏心評價 |
【一站式工業儀器儀表供應矩陣】作為專業的儀器儀表綜合供應商,我們致力于為您提供高品質的測量儀器以及全面的檢測方案。代理日本品牌:CCS晰寫速、SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克、SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI林時計、NPM日脈、NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學、NIPPON GEAR日本齒輪、NIDEC尼得科、MIYACHI天田等。優勢日本品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西、SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC、S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學、AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計器、IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機、SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等。涵蓋的優勢產品線:光學與視覺領域(紫外線照度計、LED視覺光源、色差儀、變色燈箱)、物性分析與力學測試(電子天平、粘度計、應變測試儀、拉拔機、脫泡攪拌機)、環境與氣體監測(水分計、采樣泵、氣體檢測儀、氧氣濃度計)、基礎電氣(焊接機、應力表面檢查儀、壓力傳感器、接近開關、異音檢測儀、拉針儀、水平測試儀)等,為您提供專業的選型建議與周到的供貨支持。期待與您的合作!
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