高精度光學(xué)光譜測(cè)量設(shè)備，是適配精密材料研發(fā)與工業(yè)量產(chǎn)質(zhì)檢的專用光學(xué)檢測(cè)儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜、顯示面板、新能源鋰電、化工新材料等領(lǐng)域，可無損檢測(cè)各類薄膜、涂層、光學(xué)基板的透射率、反射率、吸光度、色差及微觀光學(xué)參數(shù)，兼顧實(shí)驗(yàn)室精密分析與產(chǎn)線大批量快速篩查，是現(xiàn)代精密制造的核心檢測(cè)設(shè)備。

設(shè)備搭載優(yōu)化式精密分光光路與高靈敏探測(cè)芯片，檢測(cè)波段覆蓋紫外、可見光至近紅外區(qū)間，波長(zhǎng)精度高、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性強(qiáng)。設(shè)備自帶雜光抑制結(jié)構(gòu)與自動(dòng)基線校準(zhǔn)功能，可有效抵消環(huán)境光線、設(shè)備溫漂帶來的檢測(cè)誤差，保障光譜曲線平滑連貫，多次重復(fù)檢測(cè)數(shù)值波動(dòng)極小，精密工件的嚴(yán)苛檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備支持微小區(qū)域精準(zhǔn)測(cè)量，最小測(cè)量光斑可達(dá) 2μm，可針對(duì)晶圓微區(qū)、鍍膜點(diǎn)位、微型元器件完成定點(diǎn)檢測(cè)，同時(shí)適配大面積板材整體掃描，大小樣品均可兼容。

整機(jī)采用輕量化集成結(jié)構(gòu)，機(jī)身緊湊簡(jiǎn)潔，無需復(fù)雜配套裝置，USB 直連設(shè)備即可快速調(diào)試使用，安裝便捷、適配性強(qiáng)。模塊化拓展設(shè)計(jì)是核心優(yōu)勢(shì)，可按需搭配顯微檢測(cè)組件、電動(dòng)位移載臺(tái)、多角度光學(xué)附件，輕松實(shí)現(xiàn)透射、鏡面反射、漫反射等多模式檢測(cè)，曲面、異形工件也可精準(zhǔn)測(cè)量，適配各類復(fù)雜檢測(cè)工況。

配套專業(yè)可視化分析軟件，操作直觀易懂，可實(shí)時(shí)生成完整光譜圖譜，自動(dòng)運(yùn)算各類光學(xué)檢測(cè)參數(shù)，支持多組曲線對(duì)比、數(shù)據(jù)保存、文件導(dǎo)出與質(zhì)檢報(bào)表自動(dòng)生成，大幅簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)整理流程，滿足實(shí)驗(yàn)研究數(shù)據(jù)留存與工廠質(zhì)檢溯源需求。設(shè)備功耗低、穩(wěn)定性強(qiáng)，可全天候連續(xù)運(yùn)行，長(zhǎng)時(shí)間作業(yè)無數(shù)據(jù)漂移，故障率低，維護(hù)簡(jiǎn)單，適配無塵車間精密制程環(huán)境。

設(shè)備全程無損檢測(cè)，不會(huì)損傷薄膜、涂層、精密基板等敏感試樣，檢測(cè)效率高、精度穩(wěn)定，既適合高校、企業(yè)新材料研發(fā)測(cè)試，也可用于產(chǎn)線成品批量質(zhì)檢篩查，以高精準(zhǔn)度、高適配性、高性價(jià)比，成為行業(yè)通用的主流光學(xué)光譜檢測(cè)設(shè)備。