SANKO三高電阻薄膜厚度計
SANKO三高電阻薄膜厚度計
依托四探針電阻檢測原理,實現導電薄膜無損厚度檢測,專為薄膜電阻、金屬蒸鍍膜、導電鍍層打造,無需損傷樣品,可完成高精度薄層管控,是電子薄膜加工行業核心質檢設備。
儀器通過探頭采集薄膜表面電阻率數據,結合內置材料曲線換算薄膜實際厚度,適配氧化銦錫、金屬蒸鍍層、導電銅箔、鎳鉻電阻膜等各類導電薄層,測量區間覆蓋納米級超薄膜至微米厚導電鍍層,檢測數值穩定,薄層厚度細微差異均可清晰區分。設備內置多組標準材質曲線,切換不同薄膜工件無需反復標定,縮短產線抽檢等待時間,提升批量檢測效率。
設備搭配微型探針組件,可適配平面基板、小型元器件、曲面鍍膜工件,微小芯片、精密電阻元件、光學鍍膜玻璃都能精準完成點位測量。機身操作界面簡潔易懂,開機自動完成自檢校準,屏幕實時同步顯示厚度、電阻率兩組關鍵數據,便于工作人員同步管控膜厚與導電性能。配套數據存儲系統,自動記錄每一組測量數據,可導出完整質檢臺賬,滿足企業品質追溯管理規范。
整機外殼采用抗干擾工業材質,能屏蔽車間電磁干擾,保障長時間連續檢測的數據穩定性。全套設備包含標準校準片、專用探針頭、清潔耗材與操作手冊,開箱即可放置實驗室、產線質檢工位投入使用。日常維護簡單,僅需定期擦拭探針與工作臺,更換損耗探針即可維持測量精度。
產品適用場景集中在電子薄膜制造領域。電阻元件產線管控鎳鉻、鉭氮電阻薄膜厚度;光學玻璃、顯示屏行業檢測 ITO 導電膜;柔性線路板車間測量超薄銅箔鍍層;光伏導電基板、傳感器金屬蒸鍍膜加工均可使用。對比切片化驗等有損檢測方式,該設備檢測速度更快,樣品檢測后可正常流轉生產,大幅降低零部件損耗成本。
設備操作流程簡單規范,開機完成自檢,使用標準片校準曲線,將待測薄膜平穩放置工作臺,探針貼合表面即可快速讀取厚度數值,單次檢測僅需數秒。原廠附帶校準憑證,線上提供一對一教學服務,包含曲線標定、探針更換、數據導出等實操指導,非人為損壞故障可走正規售后流程,配套手冊標注完整保養細則,長期使用可穩定保持高精度測量狀態,適配中小加工廠與大型精密電子產線日常質檢工作。