新RAPID II家庭成員，包含一個Cu微焦點密封管和一個Mo標準密封管的雙放射源配置。晶體學家基于其*性能選擇該組合：一個微焦點的銅管結合一個多層膜反射鏡性能優于標準的銅密封管系統。一個標準鉬密封管機和一個彎曲石墨單色器性能優于一個微焦點鉬放射源和多層膜光學器件。因此DualSource RAPID II提供給我們世界較好的波長可變系統。

DualSource RAPID II （XRD） X射線衍射儀特點：

大口徑的優勢

DualSource RAPID II （XRD） X射線衍射儀的口徑非常大，204°水平方向的捕捉角度說明在曝光期間從晶體收集到更多的衍射。這將減少必須收集并一起縮放的圖像數。由于在相同圖像中測量了更多的等效反射因此縮放更加精確。

低噪音的優勢

大口徑和低點遭噪聲意味著即使是需要長時間曝光的小樣品，也可以輕松測量粉末衍射和漫散射。

簡易的優勢

RAPID II設計簡潔，易于使用，因此即使讓學生或初學用戶收集數據也無需擔心。1⁄4 Χ測角儀是用于覆蓋倒易空間的簡便方法，2θ機械手臂的缺乏說明調節簡單。RAPID II是一個高可靠性設備，如果有需要可以在現場進行修復。相比之下電子探測器必須返回原廠修理。

Features

• 單晶的標準三維結構測定
• 手征化合物的結構測定
• 完整高分辨率數據用于電荷密度建模
• 極小晶體的結構測定
• 漫散射圖譜采用長X射線曝光時間
• 使用鉆石對頂砧高壓測定
• 超分子結構（次顯微組織，常含有大單胞）
• 雙晶和調制晶體的*處理
• 粉末樣品的物相ID
• 纖維衍射圖譜
• 生物大分子的結構測定