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產品簡介
| 產地類別 | 進口 |
日本Otsuka 可見近紅外全波段瞬時光譜儀
完整型號:MCPD-9800(系列旗艦頂配機型,搭載電子制冷探測組件)
光路結構:平場光柵多通道并行分光,單次完成全波段同步采集
探測單元:電子制冷圖像傳感芯片,多通道同步感光,信噪比表現優異
波段選配:多款探測組件可選,覆蓋深紫外、可見光、近紅外分段區間
采集速度:單次完整光譜采集耗時短,適配高速流水線連續檢測
曝光調控:時長可調區間跨度大,兼顧微弱光源與高速動態發光樣品
雜散光控制:內置雜散光校正模塊,雜散光抑制效果優于前代機型
光纖接口:標準石英光纖輸入端口,可搭配積分球、顯微探頭、透射反射配件
通訊配置:雙數據傳輸端口,支持本地有線連接與遠程聯網操控
機身規格:立式緊湊一體化箱體,整機重量輕便,便于工位轉運、設備集成
供電規格:寬幅通用交流市電,適配國內外實驗室、潔凈產線供電工況
運行環境:半導體鍍膜車間、光伏研發實驗室、顯示光學質檢工位常溫潔凈工況
適配配套:分段探測替換組件、石英采樣光纖、積分球、顯微測量附件、原廠光譜分析軟件、產線聯動通訊線纜
適配功能:光學薄膜鍍層厚度測算、發光器件光譜色度標定、光伏芯片量子效率評估、鏡片涂層透射反射檢測、等離子發光瞬態捕捉、熒光材料光致發光測試、新品光學配方工藝比對、第三方光學合規檢測、高校光電材料課題對照實驗
并行瞬時全譜采集核心架構,摒棄機械掃描部件,單次采樣獲取完整光譜,大幅提升批量樣品檢測效率,適配高速自動化產線
電子制冷探測組件,降低環境熱噪干擾,微弱熒光、低反射薄層樣品也可輸出平穩清晰光譜曲線
高效雜散光抑制光路,紫外區間檢測雜散干擾大幅減少,滿足高精度紫外定量、量子效率評估嚴苛標準
多波段探測組件自由選配,一套主機切換不同探測頭,覆蓋紫外、可見光、近紅外全品類光學樣品測試
攪擾式專用采樣光纖,弱化光纖入射角度帶來的數據波動,多次重復測量數值一致性優異
大范圍可調曝光時長,短時長捕捉脈沖、瞬態發光;長時長適配微弱熒光、低亮度光源樣品,一機兼顧多類測試需求
雙通訊端口兼容兩種使用模式,電腦離線研發調試、產線遠程全自動批量檢測均可實現
立式緊湊輕量化機身,體積相比前代機型大幅縮小,狹小實驗工位、真空腔體周邊均可布置,設備集成改造門檻低
配套全功能分析軟件,自動換算色度、亮度、膜厚、發光效率等指標,支持曲線存儲、批量導出、二次開發對接產線系統
完整光譜檢測臺賬自動歸檔,光譜原始曲線、設備運行參數、樣品批次統一留存,便于復盤材料光學性能、優化鍍膜與發光工藝
光學薄膜鍍膜車間,各類介質、金屬鍍層厚度測算,同步檢測透射反射光譜,管控鍍膜均勻度
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