上海一韋儀器科技有限公司
一韋儀器IM600橡膠密封圈研磨 | 微量雜質FTIR與TGA分析超細粉體制備方案
檢測樣品:氟橡膠(FKM)或丁腈橡膠(NBR)O型密封圈
檢測項目:微量雜質FTIR與TGA分析超細粉體制備方案
方案概述:橡膠密封圈中添加劑分布不均,傳統剪切無法充分粉碎。采用一韋儀器多功能高能球磨儀IM600冷凍研磨,將氟橡膠粉碎至D90≤70μm,提升FTIR和TGA的檢測精度與重復性
一、實驗目的
橡膠密封圈中添加劑分布不均,傳統剪切無法充分粉碎。采用一韋儀器多功能高能球磨儀IM600冷凍研磨,將氟橡膠粉碎至D90≤70μm,提升FTIR和TGA的檢測精度與重復性。
二、儀器與材料
· 核心儀器:一韋儀器多功能研磨儀IM600
· 研磨罐及球:50mL氧化鋯研磨罐;8mm氧化鋯研磨球×5顆
· 實驗樣品:氟橡膠(FKM)或丁腈橡膠(NBR)O型密封圈(剪成<3mm小料塊)
三、實驗步驟
1. 橡膠密封圈用陶瓷剪刀剪成<3mm小料塊;
2. 料塊與液氮放入研磨罐,密封脆化5分鐘;
3. 加入5顆8mm氧化鋯球,再次液氮預冷3分鐘;
4. 參數:1500rpm,冷凍模式,1分40秒(每25秒暫停);
5. 取粉回升至室溫,進行FTIR和TGA分析。
四、實驗數據
五、方案總結
一韋儀器多功能高能球磨儀IM600冷凍研磨可在1.7分鐘內將氟橡膠密封圈徹底粉碎至70μm以下,全程低溫絕不變性、不降解添加劑,FTIR特征峰清晰可量化、TGA失重平臺分辨度高,定量誤差由傳統>15%降至5%以內,為航天液壓及高純氣體管道O型圈的微量雜質質控提供了理想的樣品前處理技術。
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