ECM-HAST HAST高加速壽命老化試驗(yàn)箱

bHAST測(cè)試 HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通 過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成的，這 些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者 產(chǎn)品內(nèi)部。

相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn) 超過(guò)100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移，腐蝕，絕緣 劣化，材料老化等),大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本。HAST高加 速老化測(cè)試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示面板等 產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試的快速有效替代方案。

  ECM-HAST HAST高加速壽命老化試驗(yàn)箱

應(yīng)用

用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。該試驗(yàn)檢查芯 片長(zhǎng)期貯存條件下，高溫和時(shí)間對(duì)器件的影響。本設(shè)備適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階 段的HAST測(cè)試需求，僅針對(duì)非密封封裝(塑料封裝),帶偏置 ( bHAST)  和不帶 偏置 ( uHAST)  的測(cè)試。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

·IEC60068-2-66

·IEC60749-4

·JESD22-A102E

·JESD22-A110E

·JESD22-A118B

·JPCA-ET08

·EIAJ     ED4701/100102

·AEC-Q100-Rev-H

·JIS C0096-2001