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日崎 大塚電子Otsuka反射光譜儀 是一套聚焦于材料表面光學(xué)反射特性分析的多通道檢測(cè)系統(tǒng)。通過搭配專用的反射測(cè)量治具與導(dǎo)光光纖，設(shè)備能夠非接觸地量測(cè)晶圓、玻璃...

日崎 大塚電子Otsuka透射光譜儀 是一套專注于透過率與吸光度檢測(cè)的多通道分光系統(tǒng)。依靠靈活的石英光纖組網(wǎng)，設(shè)備能夠適應(yīng)各種形狀試樣的穿透分析。系統(tǒng)搭載高速電...

日崎 大塚電子Otsuka量子效率儀（QE-5000） 是一套專為近紅外（NIR）頻段發(fā)光材料與單線態(tài)氧檢出設(shè)計(jì)的高感度分析系統(tǒng)。設(shè)備采用無需液氮冷卻的先進(jìn)檢測(cè)...

日崎 大塚電子Otsuka相位差測(cè)定儀（RE-200） 是一款無需機(jī)械驅(qū)動(dòng)部件的高規(guī)格偏光測(cè)量系統(tǒng)。設(shè)備利用光子晶體素子與 CCD 攝像機(jī)構(gòu)成偏光模塊，單次快門...

日崎 大塚電子Otsuka液晶間隙儀（RETS series） 是一款專為顯示面板行業(yè)打造的高規(guī)格光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)。設(shè)備采用偏光光學(xué)系統(tǒng)與多通道分光檢測(cè)器，支持從 ...

日崎 大塚電子Otsuka濾光片儀（LCF series） 是一套專門對(duì)應(yīng) FPD（平板顯示器）制造工序的綜合光學(xué)檢查裝置。它集成了透射光譜、色度分析、光密度測(cè)...

日崎 大塚電子Otsuka光特性儀（LE-5400） 是一款專為 LED 生產(chǎn)線設(shè)計(jì)的高速光學(xué)監(jiān)控設(shè)備。它能與流水線的控制信號(hào)保持緊密同步，借助光纖實(shí)現(xiàn)靈活的光...

日崎 大塚電子Otsuka量子效率儀（QE-2100） 是一款專為發(fā)光材料研發(fā)打造的絕對(duì)量子效率（量子收率）瞬間測(cè)定系統(tǒng)。設(shè)備采用 150W 氙燈作為激發(fā)源，配...

日崎 大塚電子Otsuka照度儀（IL100） 是一款深耕光照度高精度解析的光學(xué)設(shè)備。它通過測(cè)定分光放射照度來推算高精度的照度值。系統(tǒng)提供多種測(cè)光頭選項(xiàng)（包含高...

日崎 大塚電子Otsuka配光儀（GP-2000） 是一款專為大型及長條形照明燈具設(shè)計(jì)的高規(guī)格測(cè)試系統(tǒng)。其光路長度達(dá) 1500mm 以上，并兼容 αβ 坐標(biāo)系與...

日崎 大塚電子Otsuka配光儀（GP-1100） 是一款面向常規(guī)一般照明器具的配光特性量測(cè)設(shè)備。設(shè)備配置了 500～1500mm 的中等光路長度，采用 θφ ...

日崎 大塚電子Otsuka配光儀（GP-500） 是一款專為 LED 芯片及小型光源設(shè)計(jì)的配光特性量測(cè)裝置。設(shè)備搭載自主研發(fā)的 2 軸測(cè)角儀（Goniomete...

日崎 大塚電子Otsuka積分球測(cè)試儀（HM/FM系列） 是面向各類光源及發(fā)光器件的全光通量評(píng)估綜合系統(tǒng)。系統(tǒng)提供從 250mm 到 3000mm 的多種口徑選...

日崎 大塚電子Otsuka橢偏儀（FE-5000系列） 是一款可提供高精密薄膜解析的高級(jí)科研級(jí)設(shè)備。系統(tǒng)采用高穩(wěn)定的旋轉(zhuǎn)檢偏器原理，通過搭載測(cè)試角度自動(dòng)可變機(jī)構(gòu)...

日崎 大塚電子Otsuka 手持測(cè)厚儀 是一款突破臺(tái)式束縛的智能便攜設(shè)備。它專為生產(chǎn)一線打造，機(jī)身小巧輕便，內(nèi)置高容量電池，續(xù)航 是一款突破臺(tái)式束縛的智能便攜設(shè)...

日崎 大塚電子Otsuka 手持測(cè)厚儀 是一款突破臺(tái)式束縛的智能便攜設(shè)備。它專為生產(chǎn)一線打造，機(jī)身小巧輕便，內(nèi)置高容量電池，續(xù)航 是一款突破臺(tái)式束縛的智能便攜設(shè)...

日崎 大塚電子Otsuka 膜厚監(jiān)視器 是一款能為具備波長依賴性的多層膜提供高規(guī)格測(cè)量的嵌入式設(shè)備。它搭載了獲得技術(shù)專li的高精度 FFT 膜厚解析引擎，結(jié)合壽...

日崎 大塚電子Otsuka膜厚計(jì) 是一款采用高精度光干涉法并融合簡(jiǎn)易操作理念的緊湊型測(cè)厚設(shè)備。其采用一體化設(shè)計(jì)，將核心測(cè)試組件集中于機(jī)箱內(nèi)，保障了數(shù)據(jù)采集的高穩(wěn)...

日崎 大塚電子Otsuka晶圓計(jì) 是一款專為半導(dǎo)體研磨及拋光工藝設(shè)計(jì)的非接觸式光學(xué)厚度儀。設(shè)備基于先進(jìn)的分光干涉技術(shù)，能在晶圓加工或樹脂涂布過程中，以高頻率提取...

日崎 大塚電子Otsuka相位儀 是一款針對(duì)各類高階光學(xué)薄膜打造的專業(yè)檢測(cè)裝置。設(shè)備能以無損方式測(cè)定薄膜的相位差（Retardation）、遲相軸及三維折射率，...