日崎 大塚電子Otsuka光譜儀
日崎 大塚電子Otsuka光譜儀

在光學涂層開發（如鏡頭防反射膜）或顯示器發光源（如 LED、OLED 發光體）的色度評價中，需要對瞬息萬變的光學特征進行寬頻帶的同步截取。如果光譜儀的傳感器響應過慢或者波段較窄，將無法捕獲紫外衰減或近紅外余輝等關鍵指標。同時，對于不規則形狀的被測物，固定死板的測量臺往往難以順利引光。

【光纖柔性布線與高頻瞬態捕捉】MCPD 系列多通道分光器標配了可自由彎曲的石英導光光纖（約 2 米）。這一設計打破了樣品倉尺寸的物理限制，工程師可以將其輕松集成至顯微鏡、大型二維變角光度計甚至是高溫環境艙外部，實現遠端信號汲取。在高階機型 MCPD-9800 中，采用的高規格電子冷卻型 CCD 能夠在短至 5ms 的周期內高頻獲取 1024 通道的光學指紋，清晰記錄下等離子體閃爍或光源啟動瞬間的動態光譜演變。

【寬闊光譜覆蓋與低迷光抑制】為了適應從紫外分析到近紅外穿透的廣泛應用，系統提供了從 220nm 延伸至 1600nm 的豐富檢測器組合（包含冷卻 PDA、CCD 及 InGaAs 陣列）。值得一提的是，MCPD-9800 在內部光學設計上引入了低迷光（Stray Light）阻絕技術，將紫外頻段的迷光干擾率大幅壓低，為評估嚴苛的紫外透射阻隔材料提供了純凈的本底信號。同時，該系列儀器符合 JIS Z 8724（光源色測定法）精度要求，且具備由國際 MRA 認可的 JCSS 校準支撐，確保出具的數據具有計量級的可靠度。

【主要技術規格參考表】

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