日崎 大塚電子Otsuka薄膜評(píng)估儀
日崎 大塚電子Otsuka薄膜評(píng)估儀

在卷對(duì)卷（Roll-to-Roll）的高分子薄膜生產(chǎn)線或光學(xué)隔膜涂布工藝中，薄膜的厚度均勻性、透光濃度以及表面色度都是決定產(chǎn)品是否合格的關(guān)鍵指標(biāo)。若采用人工抽檢，不僅存在數(shù)據(jù)滯后性，一旦涂布機(jī)頭發(fā)生偏差，將會(huì)產(chǎn)生數(shù)以百米計(jì)的不良廢品。

【多參數(shù)同步監(jiān)控與非破壞檢驗(yàn)】本套在線薄膜評(píng)估系統(tǒng)通過(guò)光學(xué)原理，有效實(shí)現(xiàn)了非接觸式的質(zhì)量把關(guān)。系統(tǒng)不僅能夠穩(wěn)定解析薄膜的物理厚度，還能同步評(píng)估其光學(xué)濃度與色彩指標(biāo)（色度測(cè)量）。所有檢測(cè)過(guò)程均無(wú)需切片或觸碰膜面，保障了高價(jià)值光學(xué)膜的完整性。得益于 MCPD 分光單元的高性能，系統(tǒng)能夠適應(yīng) 65nm 極薄膜到 92μm 較厚涂層的廣泛跨度。

【實(shí)時(shí)反饋與多層結(jié)構(gòu)解析】面對(duì)具有復(fù)雜折射率的多層復(fù)合膜，傳統(tǒng)儀器的光波容易發(fā)生混淆。該系統(tǒng)依托大塚電子深厚的分光干涉算法底蘊(yùn)，在保持優(yōu)良測(cè)量重現(xiàn)性的同時(shí)，順利實(shí)現(xiàn)了對(duì)多層厚度的剝離測(cè)算。其內(nèi)部搭載的高速算法能夠跟上流水線的行進(jìn)節(jié)拍，實(shí)時(shí)輸出波動(dòng)曲線，幫助現(xiàn)場(chǎng)工程師在不良品產(chǎn)生之初便及時(shí)介入微調(diào)。

【主要技術(shù)規(guī)格參考表】

【一站式工業(yè)儀器儀表供應(yīng)矩陣】為了方便您在系統(tǒng)集成、實(shí)驗(yàn)室籌建或日常設(shè)備維護(hù)中享受到便捷的采購(gòu)支持，日崎致力于為您提供多維度的工業(yè)檢測(cè)硬件。代理日本品牌：我們聯(lián)合了 CCS晰寫速、SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克、SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI林時(shí)計(jì)、NPM日脈、NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機(jī)、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學(xué)、NIPPON GEAR日本齒輪、NIDEC尼得科、MIYACHI天田等品牌，建立起了穩(wěn)固的供貨網(wǎng)絡(luò)。優(yōu)勢(shì)日本品牌：日常設(shè)備選型中，我們支持為您提供 USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西、SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC、S-VANS斯萬(wàn)斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)、AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計(jì)器、IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學(xué)、KURABO倉(cāng)紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機(jī)、SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫(kù)斯、YODOGAWA淀川等原裝產(chǎn)品。優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品線：不論您需要的是光學(xué)視覺設(shè)備、物性與力學(xué)檢測(cè)儀器、環(huán)境與氣體監(jiān)測(cè)裝置還是基礎(chǔ)電氣部件，我們都能為您提供專業(yè)的選型建議。期待與您的合作！