王洋
當前位置:日崎國際貿易(成都)有限公司>>大塚電子 / Otsuka>>膜厚測試儀>> SM-100S日崎 大塚電子Otsuka 手持測厚儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,生物產業,制藥/生物制藥,綜合 |
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日崎 大塚電子Otsuka 手持測厚儀
日崎 大塚電子Otsuka 手持測厚儀
在大型工件涂裝車間或復雜的制造現場,由于樣品體積龐大且帶有曲面形狀,工作人員很難將其搬運至品管室放置在臺式顯微鏡下進行檢驗。如果采用接觸式卡尺,會破壞涂層表面;若依賴操作員的經驗和肉眼預估,又容易導致同一批次不同人員給出的判定結果存在巨大偏差。
【現場級機動性與標準化讀數】SM-100 系列智能膜厚計將復雜的光學儀器濃縮至約 1.1kg 的便攜機身內。配合內置的儲能電池(滿電支持 4 小時以上連續測量),質檢員可直接將其帶入生產現場,在工件表面實現“即按即測"。它采用了標準化的光學解析引擎,消除了由于“人為觀測差異"造成的誤判,為質量抽檢提供了高度一致的數字化憑證。
【無損探查與多層解析選項】該系列基于光干涉(反射分光法)原理,測試光斑控制在 Φ1mm 以內,對帶有弧度的異形樣品也能實現無損探查。設備分為標準版(SM-100S,支持單層 1~50μm)與進階的 Pro 版(SM-100P)。其中 Pro 版算力更強,不僅能夠量測 0.1~100μm 的單層膜,更能同步剝離并計算多達 3 層復合涂層的各個厚度參數。設備支持將數據以文本格式導出至 USB 閃存盤,便于后期建立品質追溯檔案。
【主要技術規格參考表】
類別 / 機型 | SM-100P (Pro 版本) | SM-100S (Standard 標準版) |
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測試原理 | 反射分光法 (光干涉法) | 反射分光法 (光干涉法) |
可測厚度范圍 | 單層: 0.1~100μm / 多層: 1~100μm | 單層: 1~50μm |
多層膜應對能力 | 支持上限 3 層結構同步解析 | 僅支持 1 層結構解析 |
測量重復精度 | 2.1σ = 0.01μm (在測量 1μm 硅氧化膜時) | 2.1σ = 0.01μm |
測量光斑直徑 | Φ1 mm 以內 | Φ1 mm 以內 |
電池續航能力 | 測量狀態下可連續工作 4 小時以上 | 測量狀態下可連續工作 4 小時以上 |
設備物理參數 | 138(W) × 198(D) × 61(H) mm,重約 1.1 kg | 138(W) × 198(D) × 61(H) mm,重約 1.1 kg |
防護與輸出接口 | IP30 / IK06 防護,支持 USB 文本格式導出 | IP30 / IK06 防護,支持 USB 文本格式導出 |
【一站式工業儀器儀表供應矩陣】為了方便您在系統集成、實驗室籌建或日常設備維護中享受到便捷的采購支持,日崎致力于為您提供多維度的工業檢測硬件。代理日本品牌:我們聯合了 CCS晰寫速、SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克、SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI林時計、NPM日脈、NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學、NIPPON GEAR日本齒輪、NIDEC尼得科、MIYACHI天田等品牌,建立起了穩固的供貨網絡。優勢日本品牌:日常設備選型中,我們支持為您提供 USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西、SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC、S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學、AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計器、IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機、SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等原裝產品。優勢產品線:不論您需要的是光學視覺設備、物性與力學檢測儀器、環境與氣體監測裝置還是基礎電氣部件,我們都能為您提供專業的選型建議。期待與您的合作!
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