日崎 大塚電子Otsuka量子效率儀
日崎 大塚電子Otsuka量子效率儀

在新型發光材料（如熒光粉、OLED 有機發光層、量子點材料）的研發中，材料將吸收的光子轉化為發射光子的效率（絕對量子產率）是最核心的評判指標。普通的熒光分光光度計往往受到光學腔體內部雜散光（迷光）的干擾，或者在測試高反射率樣品時，樣品反射回積分球壁的激發光會引起二次激發，導致算出的量子效率偏高。

【低迷光阻絕與再激發補償】QE-2100 從光學硬件底層進行了革新。它搭載的低迷光多通道分光檢測器，能有效將紫外波段的迷光干擾大幅壓低。同時，其采用的 φ150mm 積分半球（HalfMoon）結構，不僅讓樣品的置入更為簡便，還能通過專屬的軟件算法執行“再激發補正"。系統會自動剝離出由積分球內壁反射光引起的二次激發熒光，從而還原出發光材料最本真的量子產率數據。

【主要技術規格參考表】

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