日崎 大塚電子Otsuka液晶間隙儀
日崎 大塚電子Otsuka液晶間隙儀

在 LCD 液晶面板制造過程中，液晶盒間隙（Cell Gap）的均勻性直接決定了屏幕的透光率和對比度。若使用普通顯微鏡進行抽檢，不僅難以應對反射型與透射型等多種復雜模組，且人工讀數的誤差也無法滿足現代面板生產對亞微米級公差的嚴苛要求。

【偏光光學與高重復性測算】RETS 系列專為攻克復雜液晶結構的檢測而生。設備搭載了透射用偏光子單元，內部集成消光比達$10^{-5}$的格蘭-湯普森棱鏡（Glan-Thompson prism），并配合自動旋轉與脫著機構，能在 400nm~800nm 的波長范圍內對光軸進行精密檢定。得益于優良的分光光度計，其在測定 3μm 左右的液晶盒間隙時，反復重現性可控制在 ±0.005μm，為面板廠的良率分析提供了客觀的數據依靠。

【主要技術規格參考表】

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