日崎 大塚電子Otsuka反射光譜儀
日崎 大塚電子Otsuka反射光譜儀

對于高級顯示面板的增透防反射膜（AR涂層）或是高檔汽車漆面的表面特性，反射率在不同波段分布的均勻度直接影響了產品的最終品質及抗光暈能力。若測定設備的探測帶寬偏窄或是光學結構不夠靈活，面對大型異形曲板或是極薄膜層時，就很難提取到有效的表面反射波峰。

【廣域探測與場景自適應架構】專用于反射率測量的 MCPD 光譜儀通過配備特殊的光學反射探頭組件，使得反射測量脫離了固定臺面的局限。工程師可以將探頭架設在流水線上方，或者結合微觀物鏡構成顯微反射測定系統。儀器內置從 220nm 延伸至 1600nm（可選模塊）的高精度傳感陣列，其大幅壓低的迷光（Stray light）本底噪聲保證了在高反射和極低反射材料評估中，數據均能維持優良的穩定度與計量級可溯源性。

【主要技術規格參考表】

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