OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀-標準 參考價：面議
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀-標準測量各種樣品"——無論基材（玻璃還是塑料）都可以測量
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀測量各種樣品"——無論基材（玻璃還是塑料）都可以測量
OTSUKA大塚電子分光干涉式晶圓膜厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子分光干涉式晶圓膜厚儀即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性...
OTSUKA大塚電子Load Port對應膜厚測量系統 參考價：面議
OTSUKA大塚電子Load Port對應膜厚測量系統支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 支持半導體工藝的...
OTSUKA大塚電子Smart膜厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子Smart膜厚儀Smart膜厚儀采用反射分光法(光學干涉法)測量薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀-* 參考價：面議
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀 ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，...
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀 ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、...
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