OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀-北崎 參考價：面議
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀-北崎除了能夠高精度薄膜分析的光譜鏡片偏度外，我們還實現了自動調節角度測量機制，能夠處理各種類型的薄膜。 除了傳統的旋轉...
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀-* 參考價：面議
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀-*除了能夠高精度薄膜分析的光譜鏡片偏度外，我們還實現了自動調節角度測量機制，能夠處理各種類型的薄膜。 除了傳統的旋轉光...
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀除了能夠高精度薄膜分析的光譜鏡片偏度外，我們還實現了自動調節角度測量機制，能夠處理各種類型的薄膜。 除了傳統的旋轉光度計...
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀除了能夠高精度薄膜分析的光譜鏡片偏度外，我們還實現了自動調節角度測量機制，能夠處理各種類型的薄膜。 除了傳統的旋轉光度計...
OTSUKA大塚電子光譜橢圓儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子光譜橢圓儀除了能夠高精度薄膜分析的光譜鏡片偏度外，我們還實現了自動調節角度測量機制，能夠處理各種類型的薄膜。 除了傳統的旋轉光度計方法外，通...
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀-標準 參考價：面議
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀-標準測量各種樣品"——無論基材（玻璃還是塑料）都可以測量
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀測量各種樣品"——無論基材（玻璃還是塑料）都可以測量
OTSUKA大塚電子膠片厚度監視器 參考價：面議
OTSUKA大塚電子膠片厚度監視器這是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，便于高精度光學干涉薄膜厚度測量。
OTSUKA大塚電子 多通道光譜儀-北京 參考價：面議
OTSUKA大塚電子多通道光譜儀-北京可配合客戶的需求與測量用途，選擇最適的檢測器。
OTSUKA大塚電子 多通道光譜儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子多通道光譜儀可配合客戶的需求與測量用途，選擇最適的檢測器。
OTSUKA大塚電子分光干涉式晶圓膜厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子分光干涉式晶圓膜厚儀即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性...
OTSUKA大塚電子Load Port對應膜厚測量系統 參考價：面議
OTSUKA大塚電子Load Port對應膜厚測量系統支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 支持半導體工藝的...
OTSUKA大塚電子Smart膜厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子Smart膜厚儀Smart膜厚儀采用反射分光法(光學干涉法)測量薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀-* 參考價：面議
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀 ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，...
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀 ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、...
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