目錄:北崎國際貿易（北京）有限公司>>OTSUKA大塚電子>>膜厚儀>> SM-100POTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,電子/電池,制藥/生物制藥,半導體 |
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OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀
OTSUKA大塚電子智能薄膜測厚儀
“便攜式"，僅1.1公斤，輕便便攜
“高精度測量與簡易測量" 可測量至0.1微米的薄度，無需校準曲線
“兼容多層薄膜"——能夠測量多達3層多層薄膜
“無損非接觸式測量"允許測量而不損壞樣品
“測量各種樣品"——無論基材（玻璃還是塑料）都可以測量
（1）小型光譜儀
（2）緊湊型白光源
（3）設備內置
計算機。之前分析是在電腦上進行的，但......
分析
顯示
運營
通過觸摸面板啟用！
（4） 電池操作
（5）參考鏡
（6） 可更換探頭
優點
你可以帶它去以前無法到達的地方！
推理
光譜儀微型化、電池丑聞等
第一場：商務旅行目的地
第二場：生產線
第三場：無法移動的東西
優點
不需要專業知識或操作培訓！
理由（1）無需組裝，開啟即可立即使用
理由（2）只需將探針放在樣品上即可測量
理由（3）通過觸摸面板直觀操作
優點
0.1微米增量的精確測量
推理
它采用光譜干涉法
原理測量基板上的膜層厚度
來自上方
的入射光會反射到薄膜表面
·穿過薄膜的光線會反射到基板或薄膜界面
測量由
光程差引起的相位差引起的光學干涉現象
根據獲得的反射光譜和折射率計算膠片厚度
優點
（1）能測量大樣本
，（2）可無損測量
，（3）能測量各種形狀的樣品
推理
因為這是一個需要用探針測量的測量，
即使它太大，裝不下
傳統桌面設備，也沒關系。
沒必要提起
不需要像捏或按住那樣施加壓力
優點
（1）能測量各種形狀的樣品
，（2）可以測量大型樣品
，（3）可以測量無損樣品
原因
你可以更換探針以匹配樣品。
探針（1）：標準探針
用于平面樣品
（例如）薄膜，簡單形狀
探針（2）：筆型探針選項
用于面積或形狀狹窄的樣品
（例如）薄膜，簡單形狀
探針（3）：非接觸階段選項
用于你不想接觸的樣本
（例如）濕膜、半導體晶圓
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