相差測量裝置是 OSI 王子計測面向各向異性光學材料開發的非接觸式精密檢測設備，依托平行尼科爾旋轉法檢測原理，完成相位差、雙折射、分子取向角、橢圓偏振等關鍵光學參數檢測，服務材料研發、來料檢驗以及生產質量管控場景。

設備利用偏振光解析技術，偏振光穿過樣品后，受材料分子取向影響產生光程差，系統采集光強信號運算，輸出樣品光學特性數據。檢測量程覆蓋超低位相差至高相位差區間，兼顧超薄 OLED 基材與厚高分子板材檢測，角度分辨能力優異，測量重復性穩定。設備搭載多波段 LED 光源，光源使用壽命長，無需頻繁更換耗材，支持多波長檢測，可獲取材料波長色散特性，也可拓展斜入射測試，模擬不同視角下材料光學表現。

整機采用非接觸無損檢測方式，不會劃傷樣品，透明、半透明高分子薄膜均可直接測試。可配置不同樣品平臺，支持單點檢測、二維面分布掃描，長尺薄膜也可實現連續掃描。配套專業分析軟件，能夠生成相位差分布曲線，測試數據支持導出，可對接工廠管理系統，實現數據記錄與判定。

該設備主要用于顯示面板行業，檢測 LCD、OLED 配套相位差膜、偏光片、補償膜，評估面板視角與色彩表現。在高分子材料領域，用于 PI、COP 等拉伸薄膜，評價分子取向、拉伸工藝效果。同時也用于光學基板、光學樹脂器件的性能評估，高校新材料科研實驗。通過精準量化材料雙折射特性，幫助研發人員優化配方工藝，管控來料品質，排查產品不良根源，為光學材料性能評價提供可靠檢測手段。