MOA?8000 系列分子取向計(jì)，采用微波空腔諧振原理，用來(lái)評(píng)價(jià)片狀介電材料的分子鏈排列狀態(tài)，同時(shí)完成復(fù)介電常數(shù)檢測(cè)，彌補(bǔ)光學(xué)式相位差設(shè)備僅能檢測(cè)透明樣品的局限，透明、不透明試樣均可完成無(wú)損檢測(cè)。

設(shè)備利用微波極化電場(chǎng)與材料分子偶極子相互作用，旋轉(zhuǎn)樣品解析分子取向角、取向度 MOR、復(fù)介電常數(shù)、介電損耗等關(guān)鍵參數(shù)。整套系統(tǒng)由微波測(cè)量主機(jī)與分析電腦組成，樣品無(wú)需裁剪、鍍膜等預(yù)處理，屬于非接觸無(wú)損檢測(cè)，測(cè)試后樣品可以繼續(xù)用于后續(xù)實(shí)驗(yàn)。設(shè)備支持全自動(dòng)測(cè)量，測(cè)試數(shù)據(jù)、曲線可直接保存導(dǎo)出，方便工藝對(duì)比與失效分析。

可測(cè)樣品類(lèi)型十分廣泛，包含高分子拉伸薄膜、發(fā)泡片材、紙張、無(wú)紡布、預(yù)浸料、橡膠板材、陶瓷、纖維增強(qiáng)復(fù)合材料、LCP 液晶聚合物等。光學(xué)相位差設(shè)備只能檢測(cè)透光薄膜，MOA?8000 可以測(cè)量黑色、填充改性、不透明的高分子材料，評(píng)價(jià)成型、拉伸、熱處理帶來(lái)的分子取向變化，解析薄膜波音現(xiàn)象，評(píng)估纖維排布各向異性。

該設(shè)備主要應(yīng)用于高分子新材料研發(fā)，分析拉伸工藝對(duì)分子排布的影響；電子材料行業(yè)評(píng)估液晶聚合物、絕緣基材的取向與介電性能；復(fù)合材料行業(yè)檢測(cè)纖維取向狀態(tài)；也用于包裝材料、造紙行業(yè)以及高校材料科研。分子取向直接影響材料強(qiáng)度、熱收縮、電氣性能，MOA?8000 可以量化該指標(biāo)，輔助配方改良、工藝優(yōu)化與來(lái)料品質(zhì)管控，為各向異性材料開(kāi)發(fā)提供可靠檢測(cè)手段。