SPC-120T探針冷熱臺

產品概述

SPC-120T 探針冷熱臺是一款基于TEC半導體制冷技術打造的高精度溫控探針測試平臺，專為材料科學、光電器件、半導體及電化學等領域的精密實驗設計。使用時將待測樣品固定于樣品臺，通過固定探針與樣品表面實現精準電學接觸。設備通過穩定的熱電制冷與專業溫控算法，實現-40℃ ~120℃ 超寬溫區的精準控溫，支持自定義升溫/降溫速率，可實時獲取樣品在不同溫度下的電學參數與性能數據，進而分析材料溫變特性與器件性能規律。搭配固定探針結構與定制化服務，為科研機構與工業企業提供穩定、可靠、可定制的原位溫控測試解決方案。

產品特性

核心溫控技術         采用 TEC 半導體制冷方式，無機械振動，控溫精準且運行安靜

超寬溫區覆蓋         溫度范圍擴展至-40℃ ~120℃,滿足低溫到中溫的全場景實驗需求

高穩定溫控           溫度穩定性±0.1℃

固定探針結構         探針采用固定安裝設計，結構穩固，方便更換樣品

腔室可選             腔室可充入高純惰性氣體，實現樣品環境與空氣的有效隔絕

專業溫控軟件         配套可視化溫控軟件，支持可編程溫度曲線設置、數據記錄

支持定制             可根據用戶需求定制探針位置與數量

產品應用

光伏微器件的溫控下光電轉換效率、伏安特性測試

磁性材料的溫控下磁電耦合特性表征

石墨烯、MXene、黑磷等二維材料的變溫電導、載流子遷移率、溫度穩定性測試；

鈣鈦礦、有機半導體等易氧化材料在氦氣保護下的溫變光電 / 電學性能研究

半導體晶圓、芯片、MOSFET / 霍爾器件的高低溫 IV/CV 特性、閾值電壓漂移及漏電流測試

產品參數

型號                SPC-120T

探針接口             圓形多針接口/同軸接口（可訂制）

冷熱方式             TEC

溫控范圍             -40℃ ~120℃

溫度穩定性           ±0.1℃

控溫速率            升溫速率：30℃/min，降溫速率：30℃/min

載樣臺               純銅鍍金；15mm × 15mm(可根據樣品尺寸訂制)

視窗尺寸             Φ37mm

視窗材質             石英玻璃（透射波段范圍 220nm _~2500nm）, 可手動拆卸更換

探針結構             固定探針（可定制數量與布局）

探針臺尺寸           120mm × 120mm × 52mm

腔室配置             標準大氣環境，可充入氮氣、氦氣形成保護氣氛

基本配置             探針冷熱臺主機 ×1、溫度控制器 ×1、水冷機×1