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Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡PX 3212
Tundra 冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)PX 3212
TH-F120場發射透射電子顯微鏡PX 12497
JEOL JEM-ARM300F2 原子分析型電子顯微鏡PX 2485
賽默飛Talos F200X G2 TEM 透射電子顯微鏡PX 2485
H-9500日立原位環境透射電子顯微鏡H-9500PX 3090
HF-3300日立場發射透射電子顯微鏡HF-3300PX 3090
HD-2700日立球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700PX 3090
HT7700 EXALENS日立全數字化120kV 透射電鏡 HT7700 EXALENSPX 3090
HT7700日立全數字化120kV透射電鏡HT7700PX 3090
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿PX 6517
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿PX 6517
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量PX 6517
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量PX 6517
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量PX 6517
透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統PX 6517
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統PX 6517
透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統PX 6517
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統PX 6517
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統PX 6517
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統PX 6517
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統PX 6517
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統PX 6517
德國ZEISS 蔡司EVO掃描電鏡 鎢燈絲照明 專業團隊技術支持PX 5163
球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700PX 3160
透射電子顯微鏡 HT7800PX 3160
透射電子顯微鏡 HT7700PX 3160
透射電子顯微鏡 H-9500PX 3160
JEM-1000超高壓透射電鏡PX 3243
JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡PX 3243
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿PX 0
PicoFemto冷凍樣品桿PX 0
PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿PX 0
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿PX 0
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿PX 0
PicoFemto透射電鏡樣品桿預抽存儲系統PX 0
TEM樣品桿透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統-樣品桿PX 0
透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統PX 0
原位桿透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統PX 0
原位TEM桿原位MEMS-STM-TEM多場測量系統PX 0
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日本jeol生物軟材料研究小型透射電子顯微鏡
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