珀金埃爾默企業(yè)管理（上海）有限公司
單顆粒 ICP-MS 測定鐵納米顆粒：利用通用池技術(shù)消除質(zhì)譜干擾
檢測樣品：鐵納米顆粒
檢測項目：無機成分 濃度 尺寸大小 粒度分布 聚集
方案概述：隨著納米顆粒興趣的增加，各種測試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法（SP-ICP-MS）分析ICP - Mass Spectrometry金屬納米顆粒成為有前途的技術(shù)之一。
隨著納米顆粒興趣的增加，各種測試方法正被應(yīng)用。采用單顆粒模式電感耦合等離子體質(zhì)譜法（SP-ICP-MS）分析ICP - Mass Spectrometry金屬納米顆粒成為有前途的技術(shù)之一。由于其高靈敏度、易用性和分析速度快等特點，ICP-MS 是一種理想的技術(shù)，用于檢測納米顆粒的特性：無機成分、濃度、尺寸大小、粒度分布和聚集等。
ICP-MS 分析挑戰(zhàn)之一為干擾導(dǎo)致錯誤的分析結(jié)果。然而，這并非是一個問題，因為迄今為止大多數(shù) SP-ICP-MS 應(yīng)用均沒有涉及到基體干擾或常規(guī)質(zhì)譜干擾問題。例如，金和銀納米顆粒在工業(yè)中應(yīng)用較廣，未受到常規(guī)干擾。另外，大多數(shù)納米顆粒存在簡單基體中，該基體幾乎不產(chǎn)生干擾。
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