安捷倫科技（中國）有限公司
安捷倫半導體無機元素分析概覽
檢測樣品：半導體
檢測項目：元素分析
方案概述：ICP-MS 作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產業鏈，始于 20 世紀 80 年代。隨著半導體制程的不斷迭代，整個行業對 ICP-MS 的性能提出了越來越高的要求。過去 30 年來，位于日本東京的安捷倫 ICP-MS 全球研發中心與半導體產業鏈端客戶密切合作，引領著 ICP-MS 在全球半導體產業鏈中的應用不斷創新。
ICP-MS 作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產業鏈，始于 20 世紀 80 年代。隨著半導體制程的不斷迭代，整個行業對 ICP-MS 的性能提出了越來越高的要求。過去 30 年來，位于日本東京的安捷倫 ICP-MS 全球研發中心與半導體產業鏈端客戶密切合作，引領著 ICP-MS 在全球半導體產業鏈中的應用不斷創新。
相關產品清單
溫馨提示：
1.本網展示的解決方案僅供學習、研究之用，版權歸屬此方案的提供者，未經授權，不得轉載、發行、匯編或網絡傳播等。
2.如您有上述相關需求，請務必先獲得方案提供者的授權。
3.此解決方案為企業發布，信息內容的真實性、準確性和合法性由上傳企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
最新解決方案
該企業的其他方案
- 使用 Agilent 5977C GC/MSD 和氫氣載氣分析鄰苯二甲酸酯
- 利用 Agilent 9500 ICP-MS/MS 分析高純鈦
- 城鎮供水中 9 種酚類物質的液相色譜分離檢測研究
- 使用 Agilent Cary 3500測定蛋白質消光系數和濃度
- 利用 Agilent 6495D LC-MS/MS 系統 測試血漿基質中血管緊張素 II
- 采用 Agilent 990 微型氣相色譜儀分析乙烯或丙烯裂解氣產物
- 飲用水中環氧氯丙烷的分析
- 2025 版《中國藥典》聚維酮 K25/K90 中有關物質含量測定
- 使用 Agilent 5800 FACT 技術測定釹鐵硼中的雜質元素
- 利用 Agilent Cary 3500 多池紫外可見分光光度計進行紫外-可見二階導數光譜分析
