OTSUKA大塚電子膠片厚度監視器

OTSUKA大塚電子膠片厚度監視器

產品信息

• 體積緊湊、成本低且操作簡便，用于測量膠片厚度

• 通過選擇光譜儀和光源，可選擇膠片厚度范圍

• 條件設置和測量操作簡單。 任何人都能輕松測量

• 配備實時監控和仿真功能

• 其測量斑點直徑為φ1.2毫米，支持
  從3nm~35μm薄膜到厚薄膜的廣泛測量。

• 絕對反射率測量

• 薄膜厚度分析（10層）

• 光學常數分析（n：折射率，k：衰變計數）

• 功能性薄膜、塑料
  透明導電薄膜（ITO、銀納米線）、相位對比薄膜、偏振薄膜、增強現實薄膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護薄膜、硬涂層、指紋防護劑等。

• 半導體：
  化合物半導體、硅、氧化膜、氮化物薄膜、抗蝕劑、硅化碳、砷化鎵、鎵鎵、InP、鐮鈾、鐮酸、鈾銨、銨鈾、銨鈾、銨晶、藍寶石等。

• 表面處理：
  DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。

• 光學材料：
  濾光片、AR涂層等。

• FPD
  LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機膠片、密封劑）等。

• 其他的有硬盤
  、磁帶、建筑材料等。

規格