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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,電子/電池,制藥/生物制藥,半導體 |
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OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀-北崎
OTSUKA大塚電子超高速光譜干涉厚度儀-北崎
可實現非接觸式且無損的厚度測量
反射光學系統（可通過一側接觸測量）
高速（最高可達5kHz）并具備實時評估能力
實現高度穩定性（重復性準確率低于0.01%）
耐粗糙
支持任何距離
支持多層結構（最多5層）
內置NG數據移除功能
支持廣泛的膠片厚度范圍，同時實現高波長分辨率。
大塚電子的專有技術被壓縮到緊湊的機身中。
它能精確測量運動物體，非常適合
工廠生產線。
只要有一個約φ20μm的微小點，即使在不同表面條件下的
樣品上，也能測量厚度。
最大200mmまで離れた位置からでも測定可能なため、
目的や用途に応じた測定環境を構築可能です。
厚度測量（5層）
不同厚度的厚膜成員
高速在線連續測量
具備高速采樣能力，可對移動狀態下樣品進行不間斷檢測，滿足產線實時監控需求，保障制程厚度穩定性。
單側非接觸光學檢測
僅從樣品上方進行測量，無需樣品底部設置光學窗口，能夠透過觀察窗、保護膜開展檢測，適配密閉加工腔體工況。
光纖分體式集成結構
控制主機與測量探頭依靠光纖連接，主機可安置在設備外部，小型探頭便于安裝至研磨機、涂布機狹小空間。
外部對接功能
配備通訊接口、外部觸發功能，可直接對接產線 PLC 控制系統，實現數據實時傳輸，支持自動化閉環管控。
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